Alib.top > Поиск книги: Микроанализ и растровая электронная микроскопия


Alib.top - Главная | Последние поступления | Форум | Продавцы | Как купить | Как продать | Ищу книгу | Доставка | О сайте

Ключевое слово:
     
Пример: как найти                              Расширенный поиск
Каталог продаваемых книг (279016)

Найти на сайте:

Автор:
Название:
Cерия или художник:
Издательство:
ISBN:
Год: отг. до г.
Цена: от до грн.
В аннотации:
Продавец (BS):
Город продавца:
Смотреть за: последних дней

А Б В Г Д Е Ж З И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Э Ю Я

Не показывать репринты
Не показывать гравюры

Только с фото
Минус-слова:
Только эта рубрика:
Сортировка
       

Обновить форму с очисткой полей

Ссылка на этот поиск: https://alib.top/findp.php?title=%EC%E8%EA%F0%EE%E0%ED%E0%EB%E8%E7+%E8+%F0%E0%F1%F2%F0%EE%E2%E0%FF+%FD%EB%E5%EA%F2%F0%EE%ED%ED%E0%FF+%EC%E8%EA%F0%EE%F1%EA%EE%EF%E8%FF+&


Микроанализ и растровая электронная микроскопия. Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Перевод с французского. Под ред И.Б. Боровского. Тираж 3200 экз. М. Металлургия 1985г. 408 с., илл. Палiтурка / переплет: твердый, увеличенный формат.
(Продавец: BS - Barvinok, Одесса.) Цена: 253 грн. Купить
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Cостояние: спис.библ.экз., хорошее

Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. Кн. 1. Кн. 2. Пер. с англ. М. Мир, 1984г. 303с.+348с. Твердый переплет,, Чуть увеличенный. формат.
(Продавец: BS - Enjoybook, Одесса.) Цена: 400 грн. Купить
В монографии известных американских специалистов изложен! стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики при боров, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изй сражения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режи мов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с диспея сией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. Книга представляет интерес для физиков, химиков, материаловедов, геологов биологов и студентов соответствующих специальностей.
Cостояние: Очень хорошее.
Смотрите: Фото. По просьбе высылаю детальные фото книги


Если ничего не найдено, укажите только автора или одно слово из названия.
Примеры поиска

По ссылке в описании книги можно перейти на персональную страницу продавца (BS). Рекомендуется просмотреть списки его книг. Возможно, там есть ещё что-то интересное.

По ссылке на странице продавца можно заказать книгу прямо на сайте

Расширенный поиск (по годам издания, автору, издательству)


Объявление "Ищу книгу"

Раздел:
Автор:
Название:
Описание книги:
Готов заплатить за эту книгу в хорошем состоянии:  грн.
Получать предложения с большей ценой (+)
Объявление действительно  дней
(Если книга не будет найдена, можно повторить запрос, увеличив цену)
Мой электронный адрес:

Ключевое слово:
     
Пример: как найти                              Расширенный поиск
Каталог продаваемых книг (279016)


КАРТА сайта · Алиб.top - Главная · Добавить в Избранное

Copyright © 2007-2024, Ведущий и K°. Все права защищены.
Предложения, рекомендации пишите в книгу


| 0 c |